EFFITEST E-Series pro Optoelektronické Diskrétní součástky

Ideální pro sériovou výrobu, laboratorní kontrolu kvality, analýzu poruch a inženýrské testování fotodiod, fototranzistorů, infračervených senzorů a podobných optoelektronických polovodičů. Řada Effitest E-Series nabízí tři flexibilní modely – e50 Single, Dual a Quad – s pokročilými funkcemi, které pokrývají široké spektrum požadavků výroby a laboratoří.

TESTOVÁNÍ 

Určeno pro testování: 
- Fotodiody (Si, InGaAs, atd.) 
- Fototranzistory 
- Fotosenzory 
- Infračervené senzory 
- LED diody 
- Optočleny 

Hlavní funkce: 

- Vysokorychlostní pravé paralelní nebo sériové testování 
- Až 72 000 jednotek za hodinu (UPH) 
- Rozšiřitelný počet DUT pinů (až 10 pinů) 
- Samodiagnostický reléový systém 
- Snadný editor testovacích programů s menu 
- Virtuální osciloskop pro analýzu průběhů 

Měření napětí a proudu: 

- Rozsah napětí: až 800 V (rozlišení 1 µV až 24 mV) 
- Rozsah proudu: až 10 A (rozlišení 300 fA až 300 µA) 
- Přesnost: ±0,1 % plného měřicího rozsahu (FSR) 

Hardware a software: 

- Až 32 hardwarových tříd a 256 softwarových tříd 
- Integrované mapování a třídění waferů 
- Software SCADUS s režimy pro operátory a inženýry 
- Záznam dat s exportem do formátů .csv, .xlsx, .stdf, .pdf 

WAFER MAPPING 

- Kompletní možnosti wafer mappingu pro platformy Effitest a Unimet 
- Pokročilé třídění až do 256 softwarových a 32 hardwarových tříd 
- Histogramy, trendy a statistické řízení procesů (analýza Cpk, Cgm) 

TESTOVANÉ PARAMETRY PRO OPTOELEKTRONICKÉ DISKRÉTNÍ PRVKY 

Fotodiody: 

- Propustné napětí (VF) 
- Temný proud (ID) 
- Průrazné napětí (VBR) 
- Responsivita 
- Paralelní odpor
  

Fototranzistory: 

- Kolektorový proud (IC) v závislosti na intenzitě světla 
- Saturační napětí kolektor-emitor (VCEsat) 
- Proudový zesilovací činitel (hFE/hfe) 
- Průrazné napětí (V(BR)CEO, V(BR)CBO) 
- Temný proud (ICES) 

 

Volitelné moduly: 

- Integrace LCR měřiče 
- Zdroj optického výkonu (spektrometr, ovladače LED) 
- Testování tepelného odporu 

VIRTUÁLNÍ OSCILOSKOP 

- Vizualizace dynamické elektrické odezvy 
- Zachycení přechodových jevů a spínacích časů 
- Export výsledků měření přímo do datových formátů pro analýzu

APLIKACE 

- Výrobní testování fotodiod, fototranzistorů a infračervených senzorů 
- Testování kvality a výzkumně-vývojové testování 
- Laboratorní testování a charakterizace optoelektronických diskrétních prvků 
- Příchozí kontrola optoelektronických zařízení 
- Analýza poruch a vyhodnocování inženýrských vzorků 
- Testování optoelektronických zařízení na úrovni waferů