Kategorie
EFFITEST P900 Series
The Effitest P900 Series stands as an advanced high-speed testing system designed for the demanding production requirements of power discrete semiconductors. The Effitest P900 Series architecture shares the instruments of the Effitest platform with extension of high voltage, high current modules and additional extensions (UIL/UIS), Cg, Rg. Tailored for testing IGBTs, MOS-FETs, Power modules, Power Diodes, and other high-power semiconductors, the Effitest P900 Series showcases remarkable versatility. Notably, Effitest is test traditional Si semiconductors but also cutting-edge materials like SiC and GaN.
Stáhnout brožuru zde
Stáhnout podrobnou prezentaci zde
Nové dostupné rozšíření:
- UIS/UIL Avalanche testování pro měření EAS a EAR
- Měření kapacity - Rg, Cg, Ciss, Coss, Crss
Dostupné konfigurace série p900
- Effitest p910 2500V / 10A
- Effitest p911 800V / 100A
- Effitest p912 800V / 300A
- Effitest p913 2500V / 100A
- Effitest p914 2500V / 300A
- Effitest p915 2500V / 600A
- Effitest p916 2500V / 900A
- Effitest p917 2500V / 1200A
- Effitest p918 2500V / 1500A
- Effitest p923 5000V / 100A
- Effitest p924 5000V / 300A
- Effitest p925 5000V / 600A
- Effitest p926 5000V / 900A
- Effitest p927 5000V / 1200A
- Effitest p928 5000V / 1500A
Možnost multi-site testování
- Na waferu
- Na handleru
- Dostupný režim ping-pong (více míst s různými zařízeními)
TESTOVÁNÍ (Wafer, Bare Die, Balené komponenty):
- Tranzistory (GaN, SiC, atd.)
- MOS-FETy
- IGBTy
- MES-FETy
- Diod
- Usměrňovačů
- Mostů
- SCR
- Hybridních modulů
- Výkonových zařízení
- Výkonových tranzistorů
- Výkonových modulů
Funkce
- Jednoduché a rychlé TP programování
- Vysokorychlostní testování - přibližně 100 ms pro vysokovýkonný MOS-FET, 50ms pro výkonovou diodu
- Průchodnost až 45 000 UPH
- Jednoduchá, Dvojitá nebo Čtyřnásobná konfigurace
- Virtuální osciloskop – interní nástroj umožňující zobrazení měřených parametrů – napětí, proudy, atd. s frekvencí vzorkování 100kHz
- Automatická kalibrace / autotest
- Konfigurovatelná testovací hlava - škálovatelná platforma
- Široká knihovna standardních testovacích metod (v souladu s MIL-STD-750 a IEC 60747)
- Mapování waferů
- Vysoká přesnost měření – tester poskytuje vysoce přesné výsledky splňující přísné průmyslové normy.
- Modulární a flexibilní design – snadno přizpůsobitelný různým testovacím scénářům a požadavkům.
- Ideální pro výrobu i vývoj – perfektní nástroj pro ladění a ověřování nových součástek a prototypů.
- Vynikající poměr cena/výkon – cenově efektivní při zachování vysoké kvality a spolehlivosti.
- Podpora široké škály součástek – kompatibilní s různými polovodičovými a elektronickými komponenty.
- Rychlá návratnost investice – efektivní využití testeru přináší úsporu nákladů a vyšší produktivitu.
- Pokročilé možnosti automatizace – snadná integrace do existujících výrobních procesů.
- Intuitivní uživatelské rozhraní – jednoduché ovládání pro maximální efektivitu práce.
Technické specifikace
- Jednotka CVI 2×VI zdroj 30V/3A, HV zdroj 600V/10mA a měřič únikového proudu od 10nA
- Zdroj vysokého proudu LVI 300A škálovatelný až do 1500A
- Zdroj vysokého napětí HVI -2500V do +2500V
- Hi-current matice MX1 s vestavěným autotestem
- Digitalizátor & časová měřicí jednotka s 100kHz pro DC měření, 500MHz pro AC měření
- Rozlišení 16 bit měření / ovládání
Oblasti použití
- Testování ve velkoobjemové výrobě
- Kontrola kvality
- Analýza poruch
- Inženýrské testování