EFFITEST P900 Series

Série Effitest P900 představuje pokročilý, špičkový, vysokorychlostní testovací systém precizně navržený pro náročné výrobní požadavky diskrétních výkonových polovodičů. Jeho architektura efektivně využívá sofistikovanou platformu Effitest, dále rozšířenou o specializované vysokonapěťové a vysokoproudové moduly, spolu s komplexními rozšířeními, jako jsou UIL/UIS, Cg a kompletní charakteristiky Ciss, Coss, Crss a Rg. Systém je přizpůsoben pro testování IGBT, MOS-FETů, výkonových modulů a diod, čímž prokazuje pozoruhodnou všestrannost, testuje tradiční křemíkové, SiC a GaN polovodiče.

Architektura série Effitest P900 sdílí základí instrumentaci (VI zdroj) platformy Effitest s rozšířením o moduly vysokého napětí, vysokého proudu a dalšími rozšířeními (UIL/UIS), měření kapacit. Tento systém je navržen pro testování IGBT, MOS-FETů, výkonových modulů, výkonových diod a dalších výkonových polovodičů. Celá platforma Effitest je vhodná pro testování nejen polovodičů na bázi křemíku, ale také WBG (Wide Band Gap polovodičů) jako jsou SiC (na bázi karbidu křemíku) a GaN (na bázi gallium nitridu).

Stáhnout brožuru zde

Stáhnout podrobnou prezentaci zde

Nová rozšíření:

UIS/UIL Avalanche testování pro měření EAS a EAR
Měření kapacity - Rg, Cg, Ciss, Coss, Crss

Dostupné konfigurace série p900

Effitest p910 2500V / 10A
Effitest p911 800V / 100A
Effitest p912 800V / 300A
Effitest p913 2500V / 100A
Effitest p914 2500V / 300A
Effitest p915 2500V / 600A
Effitest p916 2500V / 900A
Effitest p917 2500V / 1200A
Effitest p918 2500V / 1500A
Effitest p923 5000V / 100A
Effitest p924 5000V / 300A
Effitest p925 5000V / 600A
Effitest p926 5000V / 900A
Effitest p927 5000V / 1200A
Effitest p928 5000V / 1500A

Možnost multi-site testování

Na waferu
Na handleru
Režim ping-pong - více testovacích stanic (handler/prober) s různými součástkami (MOSFET/Dioda/IGBT)

TESTOVÁNÍ (Wafer, Bare Die, Zapouzdřené komponenty):

Tranzistory (GaN, SiC, atd.)
MOS-FETy
IGBT
MES-FETy
Diody
Usměrňovače
Můstky
SCR
Hybridní moduly
Výkonová zařízení
Výkonové tranzistory
Výkonové moduly

Funkce

Jednoduché a rychlé programování v test menu editoru
Vysokorychlostní testování - přibližně 100 ms pro vysokovýkonný MOS-FET, 50ms pro výkonovou diodu
Ryhlost až 45 000 UPH (units per hour)
Multi-site konfigurace - více testovacích stanic - jedna, dvě nebo čtyři
Virtuální osciloskop – interní nástroj umožňující zobrazení měřených parametrů – napětí, proudy, atd. s frekvencí vzorkování 100kHz
Automatická kalibrace / selftest (autodiagnostika)
Konfigurovatelná testovací hlava - modulární platforma
Široká knihovna standardních testovacích metod (v souladu s MIL-STD-750 a IEC 60747)
Mapování waferů
Vysoká přesnost měření – tester poskytuje vysoce přesné výsledky splňující přísné průmyslové normy.
Modulární a flexibilní design – snadno přizpůsobitelný různým testovacím scénářům a požadavkům.
Ideální pro výrobu i vývoj – perfektní nástroj pro ladění a ověřování nových součástek a prototypů.
Vynikající poměr cena/výkon – cenově efektivní při zachování vysoké kvality a spolehlivosti.
Podpora široké škály součástek – kompatibilní s různými polovodičovými a elektronickými komponenty.
Rychlá návratnost investice – efektivní využití testeru přináší úsporu nákladů a vyšší produktivitu.
Pokročilé možnosti automatizace – snadná integrace do existujících výrobních procesů.
Intuitivní uživatelské rozhraní – jednoduché ovládání pro maximální efektivitu práce.

Technická specifikace

Jednotka CVI 2×VI zdroj 30V/3A, HV zdroj 600V/10mA a měřič únikového proudu od 10nA
Zdroj vysokého proudu LVI 300A škálovatelný až do 1500A
Zdroj vysokého napětí HVI -2500V do +2500V, konfigurovatelné až do 5000V
Hi-current matice MX1 s vestavěným autotestem
Digitalizátor & časová měřicí jednotka s 100kHz pro DC měření, 500MHz pro AC měření
Rozlišení 16 bit měření / forcování

Oblasti použití

Testování v masové produkci
Kontrola kvality
Analýza vad
Laboratorní testování