EFFITEST P900 Series

Architektura série Effitest P900 sdílí základí instrumentaci (VI zdroj) platformy Effitest s rozšířením o moduly vysokého napětí, vysokého proudu a dalšími rozšířeními (UIL/UIS), měření kapacit. Tento systém je navržen pro testování IGBT, MOS-FETů, výkonových modulů, výkonových diod a dalších výkonových polovodičů. Celá platforma Effitest je vhodná pro testování nejen polovodičů na bázi křemíku, ale také WBG (Wide Band Gap polovodičů) jako jsou SiC (na bázi karbidu křemíku) a GaN (na bázi gallium nitridu).

Stáhnout brožuru zde 

Stáhnout podrobnou prezentaci zde 

Nová rozšíření:

• UIS/UIL Avalanche testování pro měření EAS a EAR
• Měření kapacity - Rg, Cg, Ciss, Coss, Crss

Dostupné konfigurace série p900

• Effitest p910 2500V / 10A
• Effitest p911 800V / 100A
• Effitest p912 800V / 300A
• Effitest p913 2500V / 100A
• Effitest p914 2500V / 300A
• Effitest p915 2500V / 600A
• Effitest p916 2500V / 900A
• Effitest p917 2500V / 1200A
• Effitest p918 2500V / 1500A
• Effitest p923 5000V / 100A
• Effitest p924 5000V / 300A
• Effitest p925 5000V / 600A
• Effitest p926 5000V / 900A
• Effitest p927 5000V / 1200A
• Effitest p928 5000V / 1500A

Možnost multi-site testování

• Na waferu
• Na handleru
• Režim ping-pong - více testovacích stanic (handler/prober) s různými součástkami (MOSFET/Dioda/IGBT)

TESTOVÁNÍ (Wafer, Bare Die, Zapouzdřené komponenty):

• Tranzistory (GaN, SiC, atd.)
• MOS-FETy
• IGBT
• MES-FETy
• Diody
• Usměrňovače
• Můstky
• SCR
• Hybridní moduly
• Výkonová zařízení
• Výkonové tranzistory
• Výkonové moduly

Funkce

• Jednoduché a rychlé programování v test menu editoru
• Vysokorychlostní testování -  přibližně 100 ms pro vysokovýkonný MOS-FET, 50ms pro výkonovou diodu
• Ryhlost až 45 000 UPH (units per hour)
• Multi-site konfigurace - více testovacích stanic - jedna, dvě nebo čtyři
• Virtuální osciloskop – interní nástroj umožňující zobrazení měřených parametrů – napětí, proudy, atd. s frekvencí vzorkování 100kHz
• Automatická kalibrace / selftest (autodiagnostika)
• Konfigurovatelná testovací hlava - modulární platforma 
• Široká knihovna standardních testovacích metod (v souladu s MIL-STD-750 a IEC 60747)
• Mapování waferů
• Vysoká přesnost měření – tester poskytuje vysoce přesné výsledky splňující přísné průmyslové normy.
• Modulární a flexibilní design – snadno přizpůsobitelný různým testovacím scénářům a požadavkům.
• Ideální pro výrobu i vývoj – perfektní nástroj pro ladění a ověřování nových součástek a prototypů.
• Vynikající poměr cena/výkon – cenově efektivní při zachování vysoké kvality a spolehlivosti.
• Podpora široké škály součástek – kompatibilní s různými polovodičovými a elektronickými komponenty.
• Rychlá návratnost investice – efektivní využití testeru přináší úsporu nákladů a vyšší produktivitu.
• Pokročilé možnosti automatizace – snadná integrace do existujících výrobních procesů.
• Intuitivní uživatelské rozhraní – jednoduché ovládání pro maximální efektivitu práce.
   

Technická specifikace

• Jednotka CVI  2×VI zdroj 30V/3A, HV zdroj 600V/10mA a měřič únikového proudu od 10nA
• Zdroj vysokého proudu LVI 300A škálovatelný až do 1500A
• Zdroj vysokého napětí HVI -2500V do +2500V, konfigurovatelné až do 5000V
• Hi-current matice MX1 s vestavěným autotestem
• Digitalizátor & časová měřicí jednotka s 100kHz pro DC měření, 500MHz pro AC měření
• Rozlišení 16 bit měření / forcování

Oblasti použití

• Testování v masové produkci
• Kontrola kvality
• Analýza vad
• Laboratorní testování