Capacitance Extension - 容量測定

容量測定は、量産テストにおいてますます重要な要素となっています。これは、ダイオード（Cj）、MOSFET（Ciss、Crs、Coss）、IGBT（Cies、Coes、Cres）など、さまざまなコンポーネントに適用されます。現在のテスト要件は、単純な容量測定にとどまらず、測定と同時にバイアス電圧を加える必要がある場合が増えています。このニーズに対応するため、最大1000Vのバイアスに対応したユニバーサルLCRアダプタを開発しました。Keysight製E4980AL-102のような1MHz LCRブリッジと組み合わせることで、Effitestプラットフォームはバイアス付き容量測定を数ミリ秒で実行可能（ダイオードで10～20ms）となり、高速量産テストに最適なソリューションを提供します。

特長

• 最大1000Vのバイアス付き測定に対応
• Ciss、Coss、Crssなどの完全な容量特性を測定
• 最大2MHz（使用するLCRブリッジに依存）
• 弊社ソフトウェアSCADUSによるオープン／ショート補正に対応
• ケーブル接続による補正機能
• 数ミリ秒での高速容量測定
• バーチャルオシロスコープ機能

MOSFETの容量（Ciss、Crss、Coss）測定

EffitestによるMOSFETの容量特性全体の測定