EFFITEST P100 Series

Tester Effitest řady P100 představuje kompaktní desktopovou verzi větší řady P900. Je navržena pro laboratorní i výrobní prostředí. Na rozdíl od řady P900 má tato varianta omezení na maximální výstupní výkon a počet pinů. Využívající Effitest testovací platformu, integruje vysokonapěťové a vysokoproudové nástroje schopné dosáhnout až 2500V/300A. Tato konfigurace pozicionuje Effitest P100 řadu jako optimální řešení pro testování diod, IGBT a MOSFET s důrazem na efektivní využití podlahové plochy.

Download datasheetu here

Dostupná rozšíření:

UIS/UIL Avalanche testing pro EAS a EAR měření
Měření kapacit - Rg, Cg, Ciss, Coss, Crss

Konfigurace p100 serie

Effitest p100 2500V / 10A
Effitest p111 800V / 100A
Effitest p112 800V / 300A
Effitest p113 2500V / 100A
Effitest p114 2500V / 300A

Modifikovaná verze umožňuje:

Testování reverzního přepětí Zenerových diod
Testování tepelného odporu (Rth nebo dVSD)

Možnosti multi - site testování

Na manuálním adaptéru(nebo adaptérech)
Na waferu
Na handleru
Mód ping-pong k dispozici (2 místa s 2 různými zařízeními)

TESTOVÁNÍ (wafer, holé čipy, zapouzdřené součástky):

Tranzistory (GaN, SiC, atd.)
MOS-FETy
IGBT
MES-FETy
Diody
Usměrňovače
Můstky
SCRs
Hybridní moduly
Výkonová zařízení
Výkonové tranzistory
Výkonové moduly

Funkce

Snadná instalace a nastavení - méně než 3 hodiny od rozbalení po test (editor testovacího menu je v současné době ve vývoji)
Vysokorychlostní test - přibližně 200 ms pro testování vysokovýkonových MOSFETů, 80 ms pro výkonovou diodu
Testování plného můstku modulů IGBT
Propustnost až 45 000 UPH (testů za hodinu)
Virtuální osciloskop - interní nástroj umožňující zobrazení měřených parametrů - napětí, proudy, atd. s rychlostí vzorkování 100 kHz
Vyladěná konfigurace - snižuje náklady na údržbu
SW automatická kalibrace - kalibrace s externím DMM dostupná jedním kliknutím
Snadné programování a ladění testovacích programů
Nastavitelná testovací hlava - na každou testovací hlavu lze umístit jedno nebo dvě CVI
Podpora v celém životním cyklu

TECHNICKÁ SPECIFIKACE

Jednotka CVI se skládá ze 2× VI zdroje 30V/3A, HV zdroje 600V/10mA a měřiče únikového proudu od rozsahu 10nA
Zdroj vysokého proudu LVI 300A s možností škálování až na 1500A
Vestavěný duální 16-bitový ADC pro měření napětí a proudu
Zdroj vysokého napětí HVI -2500V až +2500V
Kelvinova matice MX_4A2B s vestavěným samočinným testem
Hi-current matice MX_2C s vestavěným samočinným testem
Digitizér a jednotka pro měření času
Rozlišení 16 bitů měření

OBLASTI POUŽITÍ

Testování vysokého objemu výroby
Kontrola kvality
Analýza poruch
Inženýrské testování