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UIS/UIL アバランシェ試験
EFFITESTシリーズは、EASおよびEARの測定に対応したUIS/UILアバランシェ測定を可能にします。この測定は生産用途向けに特化して設計されていますが、もちろんラボ環境でも使用可能です。
EARおよびEAS測定は、ダイオード、MOSFET、IGBT、またはバイポーラトランジスタで実施可能です。3種類の測定方法から選択できます。
特長
- 最大 2500V / 100A に対応
- ゲートドライバ ±30V
- プログラム可能なゲート抵抗 0～1023Ω
- 最大2500V / 100Aまで対応するプログラム可能な過電圧・過電流保護 - 安全な放電のための並列エネルギーパスを構成
- OVP機能（過電圧保護）の設定が可能
- デジタイザ 最大500MHz、2GS/s
- 顧客仕様に応じたカスタムインダクタ
- インダクタ、オシロスコープ、プローブ、電流センサはすべてEFP_DC_UIL_RACKに配置
- 完全な自己診断およびキャリブレーション機能
OVP（過電圧保護）
1) OVPレベル（過電圧保護のしきい値）を600Vに設定
2) 過電圧保護が作動している際の波形 – しきい値（600V）を超えるオーバーシュートなし
取得された波形
測定から得られる有用な結果
- EAS、EAR – 表示する測定結果を選択可能
- 詳細な波形データ – .csv形式への簡単なエクスポートが可能
- EASの詳細結果（測定値 / 計算値）、IASピーク、IASオフ、V(BR)有効値、V(BR)低値、V(BR)ピーク、dv/dt
