Product specifications
UNITES Systems a.s.
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757 01 Valašské Meziříčí
Czech republic
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Effitest E-series_ja
「EFFITEST E」シリーズは製造に使用最適な超高速ディスクリート半導体テスタして処理能力は最大72,000UPHです。 このシリーズが800V / 10Aまでの小信号トランジスタ、ダイオード、LED、MOSFET、JFETおよびその他の半導体のテストに最適です。さらに最低電流範囲は10nAであって GaNおよびSiCトランジスタテスティングするためにも絶好です。
「EFFITEST E」シリーズの三つモデルはとしてすべてをシングルおよびデュアルの構成であってまたはややをクアッド構成 で提供しています。再び全ての構成を800V / 10Aまで使用可能です。
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Features
- EFFITEST e50 の範囲は最大800V / 10A
- シングル構成（3ピン）、デュアル構成（e50、3 + 3ピン）およびクワッド構成（3 + 3 + 3 + 3ピン）
- 外部のマルチプレクサMUX10によって最大10ピン数まで拡張可能
- ハンドラーまたはウェーハプローバーへの接続
- 最大32個のHWビンそして256個のSWビン
- バイポーラトランジスタをテスティングするために最大72,000UPH並びに35ミリ秒未満のスループット
- パラレルおよびシリアルテスティング
- 「バーチャル ・スコープ」–波形の表示を有効 するために内部楽器
- テストプログラムを簡単にプログラミングするためのメニュー方式のテストエディター
- ファイナルテストとQAテスト準備完了
Testing
- バイポーラトランジスタ
- MOSFET（GaNおよびSiCも）
- ダイオードとツェナーダイオード
- 電圧レギュレータ
- LED、フォトダイオード、オプトカプラー
- フォトトランジスタ
- MOSFETドライバー
- IGBTドライバー
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