Effitest P900 Series_ja

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新しい拡張機能：

• EAS および EAR 測定用の UIS/UIL アバランシェ テスト
• 静電容量測定 - Rg、Cg、Ciss、Coss、Crss

P900シリーズの利用可能な構成

• Effitest p910 2500V / 10A
• Effitest p911 800V / 100A
• Effitest p912 800V / 300A
• Effitest p913 2500V / 100A
• Effitest p914 2500V / 300A
• Effitest p915 2500V / 600A
• Effitest p916 2500V / 900A
• Effitest p917 2500V / 1200A
• Effitest p918 2500V / 1500A
• Effitest p923 5000V / 100A
• Effitest p924 5000V / 300A
• Effitest p925 5000V / 600A
• Effitest p926 5000V / 900A
• Effitest p927 5000V / 1200A
• Effitest p928 5000V / 1500A

その他の特殊テストとしてRSurge, 熱抵抗などもテスト可能です。

マルチサイトテスト機能

•  ウェハー
•  ハンドラー
•  ピンポンモードの利用（複数のサイトで複数の異なるデバイス）

ターゲットデバイス(ウェハー、ベアダイ、パッケージコンポーネント)

• トランジスタ(GaN, SiCなど)
• MOSFET
• IGBT
• MES-FET
• ダイオード
• 整流器
• ブリッジ
• SCRs
• ハイブリッド モジュール
• パワー デバイス

特徴

• 簡単で高速なメニュー形式のTP プログラミング
• 高速テスト - 高出力MOS-FETのテストで約100ms、パワーダイオードのテストで50msの測定時間
• 最大45,000 UPH のスループット
• シングル、デュアル、またはクアッド構成
• ヴァーチャルスコープ – 測定されたパラメータ(電圧、電流など)を100kHz のサンプルレートで表示できるオシロスコープ機能
• 自動キャリブレーション / 自己診断
• 構成変更可能なテストヘッド - スケーラブルなプラットフォーム
• 標準テスト方法に準拠した幅広いライブラリ (MIL-STD-750 および IEC 60747 に準拠)
• ウェハーマッピング
• 高精度測定 - 厳しい業界標準を満たす高精度な測定結果の提供
• モジュール式で柔軟な設計 - さまざまなテスト仕様や要件に柔軟に適応
• 生産と開発の両方に最適 - 新しいコンポーネントやプロトタイプの微調整と検証に最適なツール
• 優れた価格性能比 - 高品質と信頼性を維持しながらコストの効率化
• 幅広いコンポーネントをサポート - さまざまな半導体および電子コンポーネントとの互換性
• 投資回収が早い - テスターを効率的に使用することで、コスト削減と生産性の向上
• 高度な自動化機能 - 既存の生産プロセスへのシームレスな統合
• 直感的なユーザーインターフェイス - 操作が簡単で作業効率が最大化

技術仕様

• CVI ユニット 2×VI ソース 30V/3A、HV ソース 600V/10mA、および 10nAレンジのリーク電流メーター
• 高電流ソース LVI 300A、最大1500A まで拡張可能
• 高電圧ソース HVI -2500V ～ +2500V
• セルフテスト機能付き高電流マトリックスMX1ボード
• DC測定用に100kHz、AC測定用に500MHzのデジタイザーおよび時間測定ユニット
• 解像度16ビットの印加/測定

応用分野

• 量産テスト
• 品質管理
• 故障解析
• エンジニアリングテスト