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UNITES Systems a.s.
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Czech republic
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Effitest E-series_ja
Effitest E50 シリーズは、小信号ディスクリート デバイス (SSD) 用の高速テスターです。スループットは最大 72,000 UPH です。最大 800V / 10A のトランジスタ、ダイオード、ツェナー ダイオード、LED、MOSFET、JFET、その他の半導体のテストに最適です。最小電流レンジは 10nA です。GaN および SiC トランジスタにも最適です。Effitest E50 シリーズは、シングル、デュアル、クワッドの構成で利用できます。すべての構成は最大 800V / 10A が可能です。
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特徴
- EFFITEST e50の最大レンジは800V/10A(800V@100mA, 2x 30V@10A)
- シングル構成(3ピン), デュアル構成(e50, 3*3ピン)およびクアッド構成(e50, 3+3+3ピン)
- 外部のマルチプレクサMUX10を使用することで最大10ピンまで拡張可能
- ハンドラーまたはプローバーとの接続
- 最大32個のHWピンおよび256個のSWビン
- バイポーラトランジスタ測定時間35ms以下と72,000UPHのスループット
- パラレルおよびシリアル測定
- ヴァーチャルスコープ – 波形を表示するための内部インスツルメンツ
- テストプログラムを簡単に作成するためのメニュー方式のエディター
- 静電容量測定 -Cg, Rg
- データログのウェハーマッピング機能
- ファイナルテストと品質管理に最適
ターゲットデバイス
- バイポーラトランジスタ
- MOSFET (GanおよびSiC)
- ダイオードおよびツエナーダイオード
- 電圧レギュレータ
- LED, フォトダイオード、フォトカプラー
- フォトトランジスタ
- MOSFETドライバー
- IGBT
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