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E: e-mail contacts

Effitest P100 Series_ja

Effitest P100シリーズ
Effitest P100シリーズは、上位モデルであるP900シリーズの機能を踏襲しながら、よりコンパクトな卓上型として設計されたモデルです。研究開発から量産現場まで、幅広い用途に対応可能です。P900シリーズと比較して、最大出力およびピンカウントに制限はあるものの、省スペース化を実現し、限られた設置スペースでも高効率な運用が可能です。Effitestテストプラットフォームをベースに、高電圧・大電流（最大2500V／300A）に対応した計測モジュールを統合。ダイオード、IGBT、MOSFETなどのパワーデバイス評価に最適なソリューションです。設置面積を最小限に抑えつつ、高いテスト性能を提供します。

 

Effitest P100

 

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拡張オプション：

P100シリーズの構成バリエーション

  • Effitest P100 2500V / 10A
  • Effitest P111 800V / 100A
  • Effitest P112 800V / 300A
  • Effitest P113 2500V / 100A
  • Effitest P114 2500V / 300A

カスタムバージョンで対応可能な測定：

  • ツェナーダイオードの逆サージ試験
  • 熱抵抗（RthまたはdVSD）測定

マルチサイトテスト機能

  • マニュアルアダプターによる測定
  • ウェーハ上での測定
  • ハンドラーによる測定
  • ピンポンモード対応（2サイトで異なるデバイスを同時測定）

対応デバイス（ウェーハ、ベアダイ、パッケージ部品）：

  • トランジスタ（GaN、SiCなど）
  • MOS-FET
  • IGBT
  • MES-FET
  • ダイオード
  • 整流器（レクチファイア）
  • ブリッジ
  • SCR（シリコン制御整流器）
  • ハイブリッドモジュール
  • パワーデバイス
  • パワートランジスタ
  • パワーモジュール

主な特長

  • わかりやすいメニュー形式のTPプログラミング
  • 高速テスト：高電力MOS-FETは約100ms、パワーダイオードは約50ms
  • 最大スループット：60,000 UPH
  • シングル／デュアル／クアッド構成に対応
  • 仮想オシロスコープ機能（内部測定器で電圧・電流などを可視化、100kHzサンプルレート）
  • 自動キャリブレーション／セルフテスト機能
  • 拡張可能なテストヘッド構成
  • MIL-STD-750およびIEC 60747に準拠したテストライブラリ
  • ウェーハマッピング対応

技術仕様

  • CVIユニット：2×VIソース（30V/10A）、HVソース（800V/100mA）、リーク電流測定（10nAレンジ）
  • 高電流ソースLVI：300A
  • 高電圧ソースHVI：-2500V〜+2500V
  • 自己診断機能付きハイカレントマトリクスMX1
  • デジタイザ＆タイム測定ユニット：DC測定100kHz、AC測定500MHz
  • 16ビット強制／測定分解能

用途分野

  • 大量生産ラインでの自動テスト
  • 品質管理
  • 故障解析
  • エンジニアリング評価

 

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