Effitest P900 Series_ja

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新しい拡張機能:

• UIS/UIL アバランシェ試験 - EAS および EAR 測定向け
• 容量測定 - Rg、Cg、Ciss、Coss、Crss

P900シリーズの利用可能な構成

• Effitest p910 2500V / 10A
• Effitest p911 800V / 100A
• Effitest p912 800V / 300A
• Effitest p913 2500V / 100A
• Effitest p914 2500V / 300A
• Effitest p915 2500V / 600A
• Effitest p916 2500V / 900A
• Effitest p917 2500V / 1200A
• Effitest p918 2500V / 1500A
• Effitest p923 5000V / 100A
• Effitest p924 5000V / 300A
• Effitest p925 5000V / 600A
• Effitest p926 5000V / 900A
• Effitest p927 5000V / 1200A
• Effitest p928 5000V / 1500A

その他の特殊テスト：RSurge、熱抵抗など。

マルチサイトテスト機能

• ウェハ上
• ハンドラ上
• ピンポンモード対応（複数サイトで異なるデバイスを同時テスト）

テスト対象（ウェハ、ベアダイ、パッケージ部品）:

• トランジスタ（GaN、SiCなど）
• MOS-FET
• IGBT
• MES-FET
• ダイオード
• 整流器
• ブリッジ
• SCR
• ハイブリッドモジュール
• パワーデバイス
• パワートランジスタ
• パワーモジュール

特徴

• 簡単かつ高速なメニュー形式のTPプログラミング
• 高速テスト - 高電力MOS-FETで約100ms、パワーダイオードで50ms
• スループット最大 45,000 UPH
• シングル、デュアル、クアッド構成対応
• バーチャルスコープ – 電圧・電流などの測定パラメータを表示可能な内部機器（100kHzサンプリング）
• 自動校正 / 自己診断機能
• 構成可能なテストヘッド - スケーラブルなプラットフォーム
• 豊富な標準テストメソッドライブラリ（MIL-STD-750、IEC 60747準拠）
• ウェハーマッピング機能
• 高精度測定 - 業界標準を満たす高い精度
• モジュラーかつ柔軟な設計 - 様々なテスト要求に容易に対応
• 量産・開発の両方に最適 - 試作・新製品の評価にも対応
• 優れたコストパフォーマンス - 高品質・高信頼性を維持しつつ経済的
• 幅広い部品に対応 - 多様な半導体・電子部品に互換
• 迅速な投資回収 - 効率的な運用によるコスト削減と生産性向上
• 高度な自動化機能 - 生産ラインへのスムーズな統合
• 直感的なユーザーインターフェース - 操作性に優れた設計
   

技術仕様

• CVIユニット：2×VIソース（30V/3A）、HVソース（600V/10mA）、リーク電流測定（10nAレンジ）
• 高電流ソース LVI：300A（最大1500Aまで拡張可能）
• 高電圧ソース HVI：-2500V ～ +2500V
• 自己診断機能付きハイカレントマトリクスMX1
• DC測定用 100kHz、AC測定用 500MHzのデジタイザ／タイム測定ユニット
• 16ビット強制/測定分解能

適用分野

• 大量生産テスト
• 品質管理
• 故障解析
• エンジニアリングテスト